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源表系统四象限电源/半导体特性/IV曲线测量

源表系统四象限电源/半导体特性/IV曲线测量

源表系统

源表系统四象限电源/半导体特性/IV曲线测量

面向半导体特性和 IV 曲线测试的四象限源表系统，支持 ±30 V、±25 A 输出与多通道测量配置。

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产品详情
规格参数

源表系统

输出电压	±30V
输出电流	±25A
测量精度	0.01%
测量通道	1-4CH可选
测量速度	最快5μs/点，200k/s
测量点数	1--100000
测量时间	5μs--1000s
过采样	支持

输出电压	±30V
输出电流	±25A
测量精度	0.01%
测量通道	1-4CH可选
测量速度	最快5μs/点，200k/s
测量点数	1--100000
测量时间	5μs--1000s
过采样	支持

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