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源表系统 四象限电源/半导体特性/IV曲线测量

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源表系统

输出电压:±30V

输出电流:±25A

测量精度:0.01%

测量通道:1-4CH可选

测量速度:最快5μs/点,200k/s

测量点数:1--100000

测量时间:5μs--1000s

过采样    :支持

输出电压:±30V

输出电流:±25A

测量精度:0.01%

测量通道:1-4CH可选

测量速度:最快5μs/点,200k/s

测量点数:1--100000

测量时间:5μs--1000s

过采样    :支持